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產(chǎn)品型號: DZ12-60/3
所屬分類:涂層測厚儀
產(chǎn)品時間:2024-07-22
簡要描述:TT242涂層測厚儀TT242覆層測厚儀- 涂層測厚儀是一種經(jīng)濟實用型便攜式測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量
TT242涂層測厚儀
- 涂層測厚儀是一種經(jīng)濟實用型便攜式測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭,還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專業(yè)*的儀器。
TT242涂層測厚儀涂層測厚儀符合以下標準:
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
*亮點
*的溫度補償算法
探頭自動識別
支持10點基本校準、溫度校準、零點校準、兩點校準等多種校準模式
支持熱敏打印,即時報告輸出
大屏幕顯示
TT242 涂層測厚儀 TT242 【時代儀器】特點:
采用了磁性和渦流兩種測厚方法,既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;
分體(傳感器與儀器之間通過引線連接)、兩用(F型N型合一)
具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);
可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正;
具有存貯功能:可存貯500 個測量值;
具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量;
可設置限界:對限界外的測量值能自動報警;
能實時顯示電量;
操作過程有蜂鳴聲提示,并可選擇關(guān)閉蜂鳴器;
待機時間可調(diào),超過待機時間自動關(guān)閉;
屏幕對比度可調(diào);
具有錯誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴器聲進行錯誤提示;
設有兩種關(guān)機模式:手動關(guān)機和自動關(guān)機。
TT242 涂層測厚儀 TT242 【時代儀器】 【時代儀器】
測量原理:
采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型測頭): 當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N型測頭也叫非磁性):利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
技術(shù)參數(shù):
測量范圍:0-1250 μm
測量誤差:2%H+1μm(H為測量范圍)
zui小曲率半徑:1.5mm(F型)、3mm(N型 )
基體臨界厚度:0.5mm(F型)、0.3mm(N型)
zui小基體直徑: 7mm(F型)、5mm(N型)
探頭類型: F型、N型分體式探頭
報警功能: 可設置限界,對限界外的測量值能自動蜂鳴報警
工作電壓: 2*3.7V
自動關(guān)機: 連續(xù)2分鐘無動作自動關(guān)閉,有開關(guān)按鈕
外形尺寸:198mm x 82mm x 30mm
測量范圍:0-1250 μm
分辨力:0.1μm(0~50μm ),1μm(>50μm )
整機重量: 230g
基本配置:
TT242主機 1臺(含打印機)
F1或N1測頭 1支
校準標準片 1套
電池 2個
通訊電纜 1個 軟件 1個
手提箱 1個 合格證,保修卡,說明書等文字資料
附帶技術(shù)參數(shù)表
測頭型號 | F1 | N1 | |||
工作原理 | 磁 感 應 |
| |||
測量范圍(um) | 0~1250 | 0~1250 銅上鍍鉻 0~40um | |||
低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | |||
示值 誤差 | 一點校準(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) | ||
二點校準(um) | ±((1~3)%H+1) | ±[(1~3)%H+1.5] | |||
測 試 條 件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸 | 1.5 | 3 | |
zui小面積的直徑(mm) | ?7 | ?5 | |||
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |